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微电脑茎秆强度仪

DDY微电脑茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺,压碎、和弯曲强度,茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力,即茎秆的强度。

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SPAD-2叶绿素测定仪

SPAD-2叶绿素测定仪根据叶绿素光谱吸收规律,采用两种不同的发光管照射叶片,通过测量透过叶片的光的强度计算出叶片内的叶绿素相对含量或者绿色程度

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ZZY植株营养测定仪介绍

ZZY植物营养测定仪利用近红外光谱技术,测量植物叶片水分、叶绿素、氮素和叶温。植物叶片水分、氮素含量、叶绿素和叶片温度是植物生长的重要营养和生理参数,是反映植物生命体征的重要参数。

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拍照式叶面积仪

LAM-D拍照式叶面积仪由图像采集设备和图像处理软件组成,采用本公司新开发的图像识别软件,根据叶片轮廓特征提取、图形实物转换、边缘检测等技术,能够形象并快速得到所测叶片面积、周长、虫洞数量等参数。

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FS-PAR高精度植物冠层测量仪

FS-PAR高精度植物冠层测量仪用于400nm-700nm波段内的光合有效辐射(PAR)测量、记录。

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ZZY泛胜植株营养测定仪介绍

ZZY泛胜植株营养测定仪利用近红外光谱技术,测量植物叶片水分、叶绿素、氮素和叶温。

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DDY泛胜茎秆强度仪

DDY泛胜茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺,压碎、和弯曲强度,茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力,即茎秆的强度。

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YLS-A高精度植物叶绿素仪

YLS-A高精度植物叶绿素仪根据叶绿素光谱吸收规律,采用两种不同的发光管照射叶片,通过测量透过叶片的光的强度计算出叶片内的叶绿素相对含量。

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LAM系列高精度作物叶面积仪

LAM系列高精度作物叶面积仪可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数,也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。

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泛胜LAM-A叶面积仪

泛胜LAM-A叶面积仪是一种使用方便、可以在野外工作的便携式仪器。可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数,也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。

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